一、產(chǎn)品描述：
日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用上照射設(shè)計，再不用擔(dān)心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。 集合所有ZSX系列的優(yōu)點：雙真空系統(tǒng)，自動真空控制，mapping/微區(qū)分析，超輕元素強靈敏度和自動芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復(fù)雜樣品。30μm超薄窗光管，保證輕元素分析靈敏度。mapping包可以檢測同質(zhì)性和夾雜物。ZSX Primus IV*具備迎接21世紀(jì)實驗室挑戰(zhàn)。
日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀是一種用于分析物質(zhì)組成的儀器。它的原理基于X射線的特性和樣品中元素的能級結(jié)構(gòu)。
當(dāng)X射線照射到樣品上時，樣品中的原子會吸收X射線能量，使得原子內(nèi)部的電子躍遷到高能級。隨后，這些高能級的電子會以熒光的形式返回到低能級，并放出特定能量的X射線。這些特定能量的X射線稱為特征X射線。
波長色散X射線熒光光譜儀利用了特征X射線的波長差異來分析樣品中的元素。它包含一個入射光束，它將白色X射線分散成不同波長的X射線。然后，樣品被放置在入射光束中，特征X射線會被樣品吸收和發(fā)射。
光譜儀中的探測器可以測量并記錄特征X射線的強度和波長。通過比較樣品中特征X射線的波長和已知元素的特征X射線的波長，可以確定樣品中存在的元素及其相對豐度。
總結(jié)起來，日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀利用樣品中元素的特征X射線的波長差異來分析樣品的成分。
二、分析范圍：
Be - U 較小的占地面積 微區(qū)分析 上照設(shè)計 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:樣品室一直在真空環(huán)境中
Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長色散X射線熒光(WDXRF)光譜儀，可以快速定量測定鈹(Be)到鈾(U)中的主要和次要原子元素，樣本類型 - 以最di標(biāo)準(zhǔn)。
新的ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)XRF軟件
ZSX指導(dǎo)為XRF測量和數(shù)據(jù)分析的各個方面提供支持。準(zhǔn)確的分析只能由專家進(jìn)行嗎？不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識和熟練的專家知識，可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品，分析組分和標(biāo)準(zhǔn)組成的基本信息。具有最小重疊，最佳背景和校正參數(shù)(包括線重疊)的測量線可以借助質(zhì)譜自動設(shè)置。
三、輕元素XRF表現(xiàn)與倒置光學(xué)為可靠性的*
ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù)，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有良好的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性，采用30微米的管子，這是較薄的終端窗口管，可提供出色的輕元素(低Z)檢測限。
映射和多點XRF分析
結(jié)合測繪包裝來檢測均勻性和包裹體，ZSX Primus IV可以對樣品進(jìn)行簡單詳細(xì)的XRF光譜測量研究，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
四、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對未知樣品進(jìn)行XRF元素分析。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準(zhǔn)確，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素)，不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和完mei的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
五、特征：
1、從Be到U的元素分析
2、ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)軟件
3、數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)
4、EZ分析界面進(jìn)行常規(guī)測量
5、管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化
6、占地面積小，使用的實驗室空間有限
7、微量分析可分析小至500μm的樣品
8、30μ管提供卓yue的輕元素性能
9、映射功能的元素地形/分布
10、氦氣密封意味著光學(xué)器件始終處于真空狀態(tài)
產(chǎn)品型號：ZSX Primus IV
